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挑戰(zhàn)
當(dāng)使用機(jī)械式觸發(fā)測(cè)頭測(cè)量復(fù)雜工件時(shí),為了有效減少測(cè)量誤差,需要花費(fèi)大量時(shí)間在使用測(cè)頭的各個(gè)方向上進(jìn)行標(biāo)定。如何在保證測(cè)量精度的前提下,提高測(cè)量效率,成了很多制造商迫切需要解決的難題。
解決方案
雷尼紹OMP400超小型應(yīng)變片式觸發(fā)測(cè)頭,搭載新型感應(yīng)技術(shù)-——硅應(yīng)變片技術(shù),可實(shí)現(xiàn)極低的預(yù)行程及超高重復(fù)性,僅需一次簡(jiǎn)單的測(cè)頭標(biāo)定程序,即可在任意方向進(jìn)行測(cè)量,也因此成為了模具和其它復(fù)雜工件唯一可行的測(cè)量解決方案。
什么是應(yīng)變片技術(shù)
應(yīng)變片技術(shù)是雷尼紹開(kāi)發(fā)的一種新型感應(yīng)技術(shù),解決了機(jī)械式電阻觸發(fā)測(cè)頭傳感機(jī)構(gòu)的3D測(cè)量局限性。它將專用集成電路 (ASIC) 微電子技術(shù)與固態(tài)感應(yīng)技術(shù)相融合,實(shí)現(xiàn)了優(yōu)異的3D測(cè)量性能。
盡管應(yīng)變片式觸發(fā)測(cè)頭仍然使用相同的機(jī)械結(jié)構(gòu)來(lái)固定測(cè)針,但它不通過(guò)接觸元件的電阻變化來(lái)感應(yīng)測(cè)針是否觸發(fā)。取而代之的是,一組應(yīng)變片被置于測(cè)頭機(jī)械傳感機(jī)構(gòu)平臺(tái)內(nèi)精心設(shè)計(jì)的碶型臺(tái)上,并且獨(dú)立于機(jī)械裝置。這些應(yīng)變片測(cè)量施加在測(cè)針上的測(cè)力,當(dāng)壓力在任何方向上超過(guò)閾值時(shí)便產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào)。此類測(cè)頭因此具有低測(cè)力、低預(yù)行程和低預(yù)行程變化(PTV)的特點(diǎn)。
機(jī)械式觸發(fā)測(cè)頭VS應(yīng)變片式觸發(fā)測(cè)頭
機(jī)械式觸發(fā)測(cè)頭
機(jī)械式觸發(fā)測(cè)頭采用滾子和球的彈簧承載機(jī)械安裝方式來(lái)定位測(cè)針架,具有優(yōu)異的重復(fù)性。電路中有電阻。測(cè)針承受的外力增大,電阻也隨之增大,直至達(dá)到觸發(fā)值并產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào)。
性能:
?1 μm 2σ重復(fù)性,源于基本的機(jī)械式電阻電氣開(kāi)關(guān)
?多種尺寸和無(wú)線傳輸選項(xiàng)
?符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),堅(jiān)固耐用、功能強(qiáng)大
應(yīng)變片式觸發(fā)測(cè)頭
應(yīng)變片式測(cè)頭保留了機(jī)械式電阻測(cè)頭的機(jī)械安裝方式,但使用一系列應(yīng)變片測(cè)量測(cè)針上的測(cè)力,并產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào)。
性能:
?優(yōu)異的0.25 μm 2σ重復(fù)性
?亞微米級(jí)2D和3D預(yù)行程變化
?固態(tài)感應(yīng)功能增強(qiáng)了測(cè)頭的耐用性,并延長(zhǎng)了使用壽命
?主動(dòng)誤觸發(fā)過(guò)濾
?快速進(jìn)行多軸重新定向
OMP400超小型
應(yīng)變片式測(cè)頭
OMP400是雷尼紹最新款采用光學(xué)方式傳輸信號(hào)的機(jī)床觸發(fā)式測(cè)頭。其采用了MP700首次采用的高精度應(yīng)變片技術(shù)的改進(jìn)版本,并且其尺寸與屢獲殊榮的OMP40機(jī)械式觸發(fā)測(cè)頭一樣小巧。小型機(jī)床用戶因此首次享受到應(yīng)變片技術(shù)帶來(lái)的精度優(yōu)勢(shì)。
優(yōu)勢(shì)
標(biāo)定程序簡(jiǎn)單,重復(fù)性高
OMP400觸發(fā)式測(cè)頭的預(yù)行程極低,測(cè)頭電子元件采用最新的改進(jìn)型算法,因此其PTV比行業(yè)領(lǐng)先的MP700觸發(fā)式測(cè)頭還要低。其優(yōu)點(diǎn)在于只需要一次簡(jiǎn)單的測(cè)頭標(biāo)定程序,就可在任意方向使用該產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量。再加上應(yīng)變片式觸發(fā)測(cè)頭的超高重復(fù)性,OMP400是模具和其他復(fù)雜工件唯一可行的測(cè)量解決方案。
使用壽命長(zhǎng),適應(yīng)惡劣工作環(huán)境
應(yīng)變片技術(shù)還有一個(gè)優(yōu)點(diǎn),即該類測(cè)頭的使用壽命是傳統(tǒng)電阻測(cè)頭的十倍。此外,測(cè)頭內(nèi)的應(yīng)變片結(jié)構(gòu)進(jìn)行了改良,產(chǎn)品的可靠性隨之提高,確保它可以很好地適應(yīng)機(jī)床內(nèi)惡劣的工作環(huán)境。
支持更長(zhǎng)的測(cè)針應(yīng)用,測(cè)量性能出色穩(wěn)定
機(jī)械式電阻觸發(fā)測(cè)頭的PTV隨測(cè)針長(zhǎng)度而增加,這意味著對(duì)測(cè)量性能的要求會(huì)限制所用測(cè)針的長(zhǎng)度。OMP400觸發(fā)式測(cè)頭具有更低、更一致的測(cè)力,測(cè)量性能更加出色,支持更長(zhǎng)的測(cè)針應(yīng)用。OMP400可支持使用長(zhǎng)達(dá)200 mm的測(cè)針,測(cè)量性能僅略微下降。
下圖顯示了在分辨率為10 nm的雷尼紹測(cè)頭測(cè)試裝置上進(jìn)行的測(cè)量測(cè)試,其中以30°為增量圍繞一圈采集12個(gè)點(diǎn)。圖中顯示了OMP400觸發(fā)式測(cè)頭的典型PTV圖,所有方向的預(yù)行程都很低,而且?guī)缀跻恢隆J褂?0 mm測(cè)針時(shí),XY平面中的PTV值僅為0.34 μm,比類似尺寸的機(jī)械式觸發(fā)測(cè)頭的PTV值低大約90%。OMP400觸發(fā)式測(cè)頭的XYZ 3D方向上的PTV值通常小于1微米。
OMP400超小型應(yīng)變片式測(cè)頭參數(shù)指南
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